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    產品展示 PRODUCTS
    光柵推掃型高光譜儀

    光柵推掃型高光譜儀

    產品型號:
    VIS
    產品名稱:
    光柵推掃型高光譜儀
    產品報價:
    簡單介紹:
    高光譜成像光譜儀采用一種全新的成像技術,通過推掃或調諧波長實現圖像與光譜的合二為一,改變了傳統光譜儀或相機獲取數據單一的缺點,為用戶提供了一種全新的分析手段。這種技術可以廣泛應用在天文、遙感、農業、考古、生物醫學、顏色科學、材料物理及化學等多種科研領域,同時也被廣泛應用在制藥生產、食品檢測、材料分選、LCD、印刷印染等各種工業質量控制領域。
    VIS光柵推掃型高光譜儀的詳細資料

     

    高光譜成像光譜儀 光柵分光成像原理圖

     

    特性描述:

    • 可同時獲取影響及光譜信息;
    • 多種波長范圍及波長分辨率,供用戶根據實際需求彈性選擇;
    • 體積簡介架構牢固,適合工業及科研研究應用;
    • 采用高衍射效率的體全息相位光柵;
    • 低散光低失真高信噪比。

     

    應用領域:
    遙感、食品工程、農產品測量、科學考古、教學科研、生產過程監測
    遙感測量 地面遙感測量 顯微成像 礦物分析

     

    性能參數:

    產品
    HR-Spectral Camera
    HScamera-NIR-1.7
    HScamera-SWIR-2.5
    成像相機
    CCD
    InGaAs
    MCT
    光譜范圍
    VIS380~800nm
    VNIR
    400~1000nm
    NIR900~1700nm
    SWIR1000~2500nm
    像素數(空間x光譜)
    1600 x 1200 / 1920 x 1080
    320 x 256
    320 x 256
    分辨率(可選配)
    2.8nm
     5nm
    10nm
    采集速率
    30
    60/100
    60/100
    濾光片選項
    VIS OBF450
    VNIR OBF570
    OBF1000
    OBF1000
    鏡頭選擇
    焦距 : 9/18.5/23/140
     焦距 : 9/18.5/23/140 遠心
    焦距 : 9/18.5/23/140 遠心
    接頭接口
    Standard C-Mount
    Standard C-Mount
    Standard C-Mount
    數據接口
    Camera Link
    Camera Link
    Camera Link
    軟件
       IOC SIA /ENVI
    IOC SIA /ENVI
    IOC SIA /ENVI
    工作溫度
    5 ~ 40 degree C 不結露
    5 ~ 40 degree C 不結露
    5 ~ 40 degree C 不結露
    可選附件/服務
    實驗室測量附件(暗箱,照明光源,參考白板,反射率測量/透射率測量附件)
    室外測量附件(三腳架,儀器箱,旋/掃描鏡)
    波長校準服務(必選)
    輻射校準服務(可選)
    實驗室測量附件(暗箱,照明光源,參考白板,反射率/透射率測量附件)
    室外測量附件(三腳架,儀器箱,旋/掃描鏡)
    波長校準服務(必選)
    輻射校準服務(可選)
    實驗室測量附件(暗箱,照明光源,參考白板,反射率/透射率測量附件)
    室外測量附件(三腳架,儀器箱,旋/掃描鏡)
    波長校準服務(必選)
    輻射校準服務(可選)

     

    實驗室測量系統:

    對于在實驗室內的測量的用戶,我們推薦選擇實驗室測量系統,系統包括測量暗箱、固定支架、光源、位移臺、反射率測量附件和透射率測量附件,如下圖:
    系統構成原理圖   系統構成實物圖

      

     


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